SiC-substraat 3 inch 350 µm dikte HPSI-type Prime Grade Dummy-kwaliteit

Korte beschrijving:

De 3-inch High Purity Silicon Carbide (SiC) wafers zijn speciaal ontworpen voor veeleisende toepassingen in vermogenselektronica, opto-elektronica en geavanceerd onderzoek. Deze wafers zijn verkrijgbaar in productie-, onderzoeks- en dummykwaliteit en bieden een uitzonderlijke soortelijke weerstand, een lage defectdichtheid en een superieure oppervlaktekwaliteit. Dankzij hun ongedoteerde semi-isolerende eigenschappen bieden ze het ideale platform voor de productie van hoogwaardige apparaten die onder extreme thermische en elektrische omstandigheden werken.


Productdetails

Productlabels

Eigenschappen

Parameter

Productiekwaliteit

Onderzoeksgraad

Dummy-cijfer

Eenheid

Cijfer Productiekwaliteit Onderzoeksgraad Dummy-cijfer  
Diameter 76,2 ± 0,5 76,2 ± 0,5 76,2 ± 0,5 mm
Dikte 500 ± 25 500 ± 25 500 ± 25 µm
Waferoriëntatie Op de as: <0001> ± 0,5° Op de as: <0001> ± 2,0° Op de as: <0001> ± 2,0° rang
Micropijpdichtheid (MPD) ≤ 1 ≤ 5 ≤ 10 cm−2^-2−2
Elektrische weerstand ≥ 1E10 ≥ 1E5 ≥ 1E5 Ω·cm
Dopant Ongedopeerd Ongedopeerd Ongedopeerd  
Primaire vlakke oriëntatie {1-100} ± 5,0° {1-100} ± 5,0° {1-100} ± 5,0° rang
Primaire vlakke lengte 32,5 ± 3,0 32,5 ± 3,0 32,5 ± 3,0 mm
Secundaire vlakke lengte 18,0 ± 2,0 18,0 ± 2,0 18,0 ± 2,0 mm
Secundaire vlakke oriëntatie 90° CW vanaf primair vlak ± 5,0° 90° CW vanaf primair vlak ± 5,0° 90° CW vanaf primair vlak ± 5,0° rang
Randuitsluiting 3 3 3 mm
LTV/TTV/Boog/Warp 3 / 10 / ±30 / 40 3 / 10 / ±30 / 40 5 / 15 / ±40 / 45 µm
Oppervlakteruwheid Si-vlak: CMP, C-vlak: Gepolijst Si-vlak: CMP, C-vlak: Gepolijst Si-vlak: CMP, C-vlak: Gepolijst  
Scheuren (Hoog Intensiteit Licht) Geen Geen Geen  
Hex-platen (hoogintensief licht) Geen Geen Cumulatief gebied 10% %
Polytype-gebieden (licht met hoge intensiteit) Cumulatief oppervlak 5% Cumulatief oppervlak 20% Cumulatief oppervlak 30% %
Krassen (Hoog Intensiteit Licht) ≤ 5 krassen, cumulatieve lengte ≤ 150 ≤ 10 krassen, cumulatieve lengte ≤ 200 ≤ 10 krassen, cumulatieve lengte ≤ 200 mm
Randafbrokkeling Geen ≥ 0,5 mm breedte/diepte 2 toegestaan ​​≤ 1 mm breedte/diepte 5 toegestaan ​​≤ 5 mm breedte/diepte mm
Oppervlakteverontreiniging Geen Geen Geen  

Toepassingen

1. Hoogvermogen elektronica
De superieure thermische geleidbaarheid en de brede bandgap van SiC-wafers maken ze ideaal voor apparaten met een hoog vermogen en hoge frequenties:
●MOSFET's en IGBT's voor vermogensomzetting.
●Geavanceerde elektrische voertuigsystemen, inclusief omvormers en laders.
●Slimme netwerkinfrastructuur en systemen voor hernieuwbare energie.
2. RF- en microgolfsystemen
SiC-substraten maken hoogfrequente RF- en microgolftoepassingen mogelijk met minimaal signaalverlies:
●Telecommunicatie- en satellietsystemen.
●Radarsystemen voor de lucht- en ruimtevaart.
●Geavanceerde 5G-netwerkcomponenten.
3. Opto-elektronica en sensoren
De unieke eigenschappen van SiC ondersteunen een verscheidenheid aan opto-elektronische toepassingen:
●UV-detectoren voor milieubewaking en industriële detectie.
●LED- en lasersubstraten voor vaste-toestandverlichting en precisie-instrumenten.
●Hogetemperatuursensoren voor de lucht- en ruimtevaart- en automobielindustrie.
4. Onderzoek en ontwikkeling
De diversiteit aan graden (Productie, Onderzoek, Dummy) maakt baanbrekende experimenten en het maken van prototypes van apparaten in de academische wereld en de industrie mogelijk.

Voordelen

●Betrouwbaarheid:Uitstekende weerstand en stabiliteit in alle klassen.
●Aanpassing:Aangepaste oriëntaties en diktes voor verschillende behoeften.
●Hoge zuiverheid:De ongedoteerde samenstelling zorgt voor minimale variaties als gevolg van onzuiverheden.
●Schaalbaarheid:Voldoet aan de eisen van zowel massaproductie als experimenteel onderzoek.
De 3-inch SiC-wafers met hoge zuiverheidsgraad vormen uw toegangspoort tot hoogwaardige apparaten en innovatieve technologische ontwikkelingen. Neem vandaag nog contact met ons op voor vragen en gedetailleerde specificaties.

Samenvatting

De 3-inch High Purity Silicon Carbide (SiC) wafers, verkrijgbaar in productie-, onderzoeks- en dummykwaliteit, zijn hoogwaardige substraten ontworpen voor hoogvermogenelektronica, RF-/microgolfsystemen, opto-elektronica en geavanceerd onderzoek en ontwikkeling. Deze wafers hebben ongedoteerde, semi-isolerende eigenschappen met een uitstekende soortelijke weerstand (≥1E10 Ω·cm voor productiekwaliteit), een lage micropipe-dichtheid (≤1 cm−2^-2−2) en een uitzonderlijke oppervlaktekwaliteit. Ze zijn geoptimaliseerd voor hoogwaardige toepassingen, waaronder energieomzetting, telecommunicatie, UV-detectie en ledtechnologieën. Met aanpasbare oriëntaties, superieure thermische geleidbaarheid en robuuste mechanische eigenschappen maken deze SiC-wafers efficiënte, betrouwbare apparaatfabricage en baanbrekende innovaties in diverse sectoren mogelijk.

Gedetailleerd diagram

SiC Semi-isolerend04
SiC Semi-isolerend05
SiC Semi-isolerend01
SiC Semi-isolerend06

  • Vorig:
  • Volgende:

  • Schrijf hier uw bericht en stuur het naar ons