LiTaO3 Wafer 2inch-8inch 10x10x0.5 mm 1sp 2sp voor 5G/6G-communicatie
Technische parameters
Naam | Optische kwaliteit LiTaO3 | Geluidstabelniveau LiTaO3 |
Axiaal | Z-snede +/- 0,2° | 36° Y-snede / 42° Y-snede / X-snede (+/- 0,2°) |
Diameter | 76,2 mm +/- 0,3 mm/ 100±0,2 mm | 76,2 mm +/- 0,3 mm 100 mm +/- 0,3 mm of 150 ± 0,5 mm |
Referentievlak | 22 mm +/- 2 mm | 22 mm +/- 2 mm 32 mm +/- 2 mm |
Dikte | 500um +/-5mm 1000um +/-5mm | 500um +/-20mm 350um +/-20mm |
TTV | ≤ 10um | ≤ 10um |
Curietemperatuur | 605 °C + / - 0,7 °C (DTA-methode) | 605 °C + / -3 °C (DTA-methode |
Oppervlaktekwaliteit | Dubbelzijdig polijsten | Dubbelzijdig polijsten |
Afgeschuinde randen | randafronding | randafronding |
Belangrijkste kenmerken
1. Elektrische en optische prestaties
· Elektro-optische coëfficiënt: r33 bereikt 30 pm/V (X-cut), 1,5× hoger dan LiNbO3, waardoor ultrabreedband elektro-optische modulatie mogelijk is (>40 GHz bandbreedte).
· Brede spectrale respons: transmissiebereik 0,4–5,0 μm (8 mm dikte), met een ultraviolet-absorptierand van slechts 280 nm, ideaal voor UV-lasers en quantumdot-apparaten.
· Lage pyro-elektrische coëfficiënt: dP/dT = 3,5×10⁻⁴ C/(m²·K), waardoor stabiliteit in infraroodsensoren met hoge temperaturen wordt gegarandeerd.
2. Thermische en mechanische eigenschappen
· Hoge thermische geleidbaarheid: 4,6 W/m·K (X-cut), vier keer zo hoog als die van kwarts, geschikt voor thermische cycli van -200–500°C.
· Lage thermische uitzettingscoëfficiënt: CTE = 4,1×10⁻⁶/K (25–1000°C), compatibel met siliconenverpakkingen om thermische spanning te minimaliseren.
3. Defectcontrole en verwerkingsnauwkeurigheid
· Micropipe-dichtheid: <0,1 cm⁻² (8-inch wafers), dislocatiedichtheid <500 cm⁻² (geverifieerd via KOH-etsing).
· Oppervlaktekwaliteit: CMP-gepolijst tot Ra <0,5 nm, voldoet aan de vlakheidsvereisten van EUV-lithografie.
Belangrijkste toepassingen
Domein | Toepassingsscenario's | Technische voordelen |
Optische communicatie | 100G/400G DWDM-lasers, hybride siliciumfotonicamodules | De brede spectrale transmissie van de LiTaO3-wafer en het lage verlies van de golfgeleider (α <0,1 dB/cm) maken uitbreiding van de C-band mogelijk. |
5G/6G-communicatie | SAW-filters (1,8–3,5 GHz), BAW-SMR-filters | 42°Y-cut wafers bereiken Kt² >15%, wat zorgt voor een lage invoegingsdemping (<1,5 dB) en een hoge roll-off (>30 dB). |
Quantumtechnologieën | Enkelvoudige fotondetectoren, parametrische down-conversiebronnen | Een hoge niet-lineaire coëfficiënt (χ(2)=40 pm/V) en een lage donkere tellingsnelheid (<100 tellingen/s) verbeteren de kwantumgetrouwheid. |
Industriële detectie | Hogedruksensoren, stroomtransformatoren | De piëzo-elektrische respons (g33 >20 mV/m) en de hoge temperatuurtolerantie (>400°C) van de LiTaO3-wafer zijn geschikt voor extreme omgevingen. |
XKH-diensten
1. Aangepaste waferfabricage
· Formaat en snijvorm: 2–8 inch wafers met X/Y/Z-snede, 42° Y-snede en aangepaste hoekige sneden (±0,01° tolerantie).
· Dopingcontrole: Fe, Mg-doping via Czochralski-methode (concentratiebereik 10¹⁶–10¹⁹ cm⁻³) om elektro-optische coëfficiënten en thermische stabiliteit te optimaliseren.
2. Geavanceerde procestechnologieën
· Periodic Poling (PPLT): Smart-Cut-technologie voor LTOI-wafers, waarmee een periodeprecisie van ±10 nm en quasi-fase-aangepaste (QPM) frequentieomzetting wordt bereikt.
· Heterogene integratie: Si-gebaseerde LiTaO3-composietwafers (POI) met diktecontrole (300–600 nm) en thermische geleidbaarheid tot 8,78 W/m·K voor hoogfrequente SAW-filters.
3. Kwaliteitsmanagementsystemen
· End-to-end-testen: Ramanspectroscopie (polytypeverificatie), XRD (kristalliniteit), AFM (oppervlaktemorfologie) en optische uniformiteitstesten (Δn <5×10⁻⁵).
4. Wereldwijde ondersteuning van de toeleveringsketen
· Productiecapaciteit: Maandelijkse productie >5.000 wafers (8-inch: 70%), met noodlevering binnen 48 uur.
· Logistiek netwerk: dekking in Europa, Noord-Amerika en Azië-Pacific via lucht-/zeevracht met temperatuurgecontroleerde verpakking.


