Diamantdraadsnijmachine van siliciumcarbide voor de verwerking van SiC-staven van 4/6/8/12 inch.
Werkingsprincipe:
1. Bevestiging van de staaf: De SiC-staaf (4H/6H-SiC) wordt op het snijplatform bevestigd met behulp van een opspaninrichting om een nauwkeurige positionering (±0,02 mm) te garanderen.
2. Diamantlijnbeweging: de diamantlijn (gegalvaniseerde diamantdeeltjes op het oppervlak) wordt aangedreven door een geleidingswielsysteem voor snelle circulatie (lijnsnelheid 10-30 m/s).
3. Snijtoevoer: de staaf wordt in de ingestelde richting aangevoerd en de diamantlijn snijdt gelijktijdig met meerdere parallelle lijnen (100-500 lijnen) om meerdere wafers te vormen.
4. Koeling en spaanafvoer: Spuit koelvloeistof (gedemineraliseerd water + additieven) in het snijgebied om hitteschade te verminderen en spanen te verwijderen.
Belangrijkste parameters:
1. Snijsnelheid: 0,2~1,0 mm/min (afhankelijk van de kristalrichting en dikte van het SiC).
2. Lijnspanning: 20~50N (te hoog kan leiden tot lijnbreuk, te laag beïnvloedt de snijprecisie).
3. Waferdikte: standaard 350~500 μm, wafers kunnen tot 100 μm dik zijn.
Belangrijkste kenmerken:
(1) Snijnauwkeurigheid
Diktetolerantie: ±5 μm (@350 μm wafer), beter dan conventioneel mortelsnijden (±20 μm).
Oppervlakteruwheid: Ra<0,5μm (geen extra slijpen nodig om de hoeveelheid nabewerking te verminderen).
Kromming: <10 μm (vermindert de moeilijkheid van het daaropvolgende polijsten).
(2) Verwerkingsefficiëntie
Snijlijn voor meerdere stuks: het snijden van 100 tot 500 stuks tegelijk, waardoor de productiecapaciteit 3 tot 5 keer hoger wordt (vergeleken met snijlijn voor één stuk).
Levensduur van de lijn: De diamantlijn kan 100 tot 300 km SiC snijden (afhankelijk van de hardheid van het blok en de procesoptimalisatie).
(3) Lage schadeverwerking
Randbreuk: <15 μm (traditioneel snijden >50 μm), verbetert de waferopbrengst.
Beschadigingslaag onder het oppervlak: <5 μm (vermindert het verwijderen van materiaal tijdens het polijsten).
(4) Milieubescherming en economie
Geen mortelverontreiniging: Lagere kosten voor de afvoer van vloeibaar afval in vergelijking met het zagen van mortel.
Materiaalgebruik: Snijverlies <100 μm/frees, waardoor SiC-grondstoffen worden bespaard.
Snij-effect:
1. Waferkwaliteit: geen macroscopische scheuren op het oppervlak, weinig microscopische defecten (beheersbare dislocatie-uitbreiding). Kan direct doorgaan naar de ruwe polijstfase, waardoor het procesverloop wordt verkort.
2. Consistentie: de dikteafwijking van de wafer in de batch is <±3%, waardoor deze geschikt is voor geautomatiseerde productie.
3. Toepassingsgebied: Ondersteunt het snijden van 4H/6H-SiC-blokken, compatibel met geleidende/halfgeleidende typen.
Technische specificaties:
| Specificatie | Details |
| Afmetingen (L × B × H) | 2500x2300x2500 of aanpassen |
| Verwerkingsmateriaalgroottebereik | 4, 6, 8, 10, 12 inch siliciumcarbide |
| Oppervlakteruwheid | Ra≤0,3u |
| Gemiddelde snijsnelheid | 0,3 mm/min |
| Gewicht | 5,5 ton |
| Stappen voor het instellen van het snijproces | ≤30 stappen |
| Apparatuurgeluid | ≤80 dB |
| Stalen draadspanning | 0~110N (draadspanning van 0,25 is 45N) |
| Staaldraadsnelheid | 0~30 m/s |
| Totaal vermogen | 50 kW |
| Diamantdraaddiameter | ≥0,18 mm |
| Einde van de vlakheid | ≤0,05 mm |
| Snij- en breeksnelheid | ≤1% (met uitzondering van menselijke fouten, siliconenmateriaal, leidingen, onderhoud en andere redenen) |
XKH-diensten:
XKH levert de complete service voor het snijden van siliciumcarbide-diamantdraad, inclusief apparatuurselectie (afstemming van draaddiameter/draadsnelheid), procesontwikkeling (optimalisatie van snijparameters), levering van verbruiksartikelen (diamantdraad, geleidingswiel) en aftersalesondersteuning (apparatuuronderhoud, analyse van de snijkwaliteit). Hiermee helpen we klanten bij het realiseren van een hoge opbrengst (>95%) en kostenefficiënte massaproductie van SiC-wafers. XKH biedt tevens upgrades op maat (zoals ultradun snijden, geautomatiseerd laden en lossen) met een levertijd van 4-8 weken.
Gedetailleerd diagram





