SiC-staafgroeioven voor SiC-kristallen met grote diameter TSSG/LPE-methoden
Werkingsprincipe
Het kernprincipe van de groei van siliciumcarbide ingots in de vloeibare fase omvat het oplossen van hoogzuivere SiC-grondstoffen in gesmolten metalen (bijv. Si, Cr) bij 1800-2100 °C om verzadigde oplossingen te vormen, gevolgd door gecontroleerde, gerichte groei van SiC-kristallen op entkristallen door middel van nauwkeurige temperatuurgradiënt- en oververzadigingsregeling. Deze technologie is met name geschikt voor de productie van hoogzuivere (> 99,9995%) 4H/6H-SiC-kristallen met een lage defectdichtheid (< 100/cm²), die voldoen aan de strenge substraatvereisten voor vermogenselektronica en RF-apparaten. Het groeisysteem in de vloeibare fase maakt een nauwkeurige regeling van het geleidbaarheidstype (N/P-type) en de soortelijke weerstand van het kristal mogelijk door middel van geoptimaliseerde oplossingssamenstelling en groeiparameters.
Kerncomponenten
1. Speciaal smeltkroessysteem: smeltkroes van hoogwaardig grafiet/tantaliumcomposiet, temperatuurbestendig > 2200 °C, bestand tegen SiC-smeltcorrosie.
2. Verwarmingssysteem met meerdere zones: gecombineerde weerstands-/inductieverwarming met een temperatuurregelnauwkeurigheid van ±0,5°C (bereik 1800-2100°C).
3. Precisiebewegingssysteem: dubbele gesloten lusregeling voor zaadrotatie (0-50 tpm) en heffen (0,1-10 mm/u).
4. Atmosfeerregelsysteem: bescherming met argon/stikstof van hoge zuiverheid, instelbare werkdruk (0,1-1 atm).
5. Intelligent besturingssysteem: PLC + redundante industriële pc-besturing met realtime groei-interfacebewaking.
6. Efficiënt koelsysteem: het geleidelijke waterkoelingsontwerp zorgt voor een stabiele werking op de lange termijn.
TSSG versus LPE-vergelijking
Kenmerken | TSSG-methode | LPE-methode |
Groeitemperatuur | 2000-2100°C | 1500-1800°C |
Groeipercentage | 0,2-1 mm/u | 5-50 μm/u |
Kristalgrootte | 4-8 inch staven | 50-500μm epi-lagen |
Hoofdtoepassing | Substraatvoorbereiding | Epilagen van het krachtapparaat |
Defectdichtheid | <500/cm² | <100/cm² |
Geschikte polytypen | 4H/6H-SiC | 4H/3C-SiC |
Belangrijkste toepassingen
1. Vermogenselektronica: 6-inch 4H-SiC-substraten voor 1200V+ MOSFET's/diodes.
2. 5G RF-apparaten: semi-isolerende SiC-substraten voor PA's van basisstations.
3. EV-toepassingen: ultradikke (>200 μm) epi-lagen voor modules van automobielkwaliteit.
4. PV-omvormers: substraten met lage defecten die een conversie-efficiëntie van >99% mogelijk maken.
Belangrijkste voordelen
1. Technologische superioriteit
1.1 Geïntegreerd multi-methode ontwerp
Dit SiC-ingotgroeisysteem met vloeibare fase combineert op innovatieve wijze TSSG- en LPE-kristalgroeitechnologieën. Het TSSG-systeem maakt gebruik van bovengezaaide oplossingsgroei met nauwkeurige smeltconvectie en temperatuurgradiëntcontrole (ΔT≤5℃/cm), wat een stabiele groei van SiC-ingots met een grote diameter van 4-8 inch mogelijk maakt, met een opbrengst van 15-20 kg voor 6H/4H-SiC-kristallen in één run. Het LPE-systeem maakt gebruik van een geoptimaliseerde oplosmiddelsamenstelling (Si-Cr-legeringssysteem) en oververzadigingsregeling (±1%) om hoogwaardige dikke epitaxiale lagen te laten groeien met een defectdichtheid <100/cm² bij relatief lage temperaturen (1500-1800℃).
1.2 Intelligent controlesysteem
Uitgerust met slimme groeicontrole van de 4e generatie met:
• Multispectrale in-situ monitoring (golflengtebereik van 400-2500 nm)
• Lasergebaseerde smeltniveaudetectie (precisie van ±0,01 mm)
• CCD-gebaseerde diameter-gesloten-lusregeling (<±1 mm fluctuatie)
• AI-gestuurde optimalisatie van groeiparameters (15% energiebesparing)
2. Voordelen van procesprestaties
2.1 Kernsterkten van de TSSG-methode
• Groot formaat: Ondersteunt kristalgroei tot 8 inch met een diameteruniformiteit van >99,5%
• Superieure kristalliniteit: dislocatiedichtheid <500/cm², micropijpdichtheid <5/cm²
• Dopinguniformiteit: <8% variatie in n-type weerstand (4-inch wafers)
• Geoptimaliseerde groeisnelheid: instelbaar van 0,3-1,2 mm/u, 3-5× sneller dan dampfasemethoden
2.2 Kernsterktes van de LPE-methode
• Ultra-lage defectepitaxie: interfacetoestandsdichtheid <1×10¹¹cm⁻²·eV⁻¹
• Nauwkeurige diktecontrole: 50-500 μm epi-lagen met <±2% diktevariatie
• Lagetemperatuurrendement: 300-500℃ lager dan CVD-processen
• Groei van complexe structuren: Ondersteunt pn-overgangen, superroosters, enz.
3. Voordelen van productie-efficiëntie
3.1 Kostenbeheersing
• 85% grondstofgebruik (tegenover 60% conventioneel)
• 40% lager energieverbruik (vergeleken met HVPE)
• 90% uptime van de apparatuur (modulaire opbouw minimaliseert downtime)
3.2 Kwaliteitsborging
• 6σ procescontrole (CPK>1,67)
• Online defectdetectie (resolutie van 0,1 μm)
• Volledige traceerbaarheid van procesgegevens (meer dan 2000 realtime parameters)
3.3 Schaalbaarheid
• Compatibel met 4H/6H/3C-polytypen
• Upgradebaar naar 12-inch procesmodules
• Ondersteunt SiC/GaN hetero-integratie
4. Voordelen van industriële toepassingen
4.1 Stroomapparaten
• Substraten met lage weerstand (0,015-0,025 Ω·cm) voor apparaten van 1200-3300 V
• Semi-isolerende substraten (>10⁸Ω·cm) voor RF-toepassingen
4.2 Opkomende technologieën
• Quantumcommunicatie: Substraten met ultralage ruis (1/f ruis <-120 dB)
• Extreme omgevingen: Stralingsbestendige kristallen (<5% degradatie na 1×10¹⁶n/cm² bestraling)
XKH-diensten
1. Aangepaste apparatuur: Op maat gemaakte TSSG/LPE-systeemconfiguraties.
2. Procestraining: Uitgebreide technische trainingsprogramma's.
3. Aftersales-ondersteuning: 24/7 technische respons en onderhoud.
4. Turnkey-oplossingen: complete service van installatie tot procesvalidatie.
5. Materiaalvoorziening: 2-12 inch SiC-substraten/epi-wafers beschikbaar.
Belangrijke voordelen zijn:
• Mogelijkheid tot kristalgroei van maximaal 8 inch.
• Uniformiteit van de soortelijke weerstand <0,5%.
• Beschikbaarheid van apparatuur >95%.
• 24/7 technische ondersteuning.


