Op maat gemaakte saffier optische vensters Saffiercomponenten met precisiepolijsten

Korte beschrijving:

Op maat gemaakte saffier optische vensters vertegenwoordigen het toppunt van precisie optische engineering. Ze maken gebruik van monokristallijn Al₂O₃, gekweekt in Czochralski, met een gecontroleerde kristallografische oriëntatie (meestal C-as of A-as) om de prestaties voor specifieke toepassingen te optimaliseren. Ons gepatenteerde kristalgroeiproces levert materiaal op met een uitzonderlijke homogeniteit (<5 × 10⁻⁶ brekingsindexvariatie) en minimale insluitsels (<0,01 ppm), wat consistente optische prestaties garandeert in alle productiebatches. De vensters behouden een opmerkelijke stabiliteit in de omgeving, met een CTE van 5,3 × 10⁻⁶/K parallel aan de C-as, wat naadloze integratie in assemblages met meerdere materialen mogelijk maakt die onderhevig zijn aan thermische cycli. Onze geavanceerde polijsttechnieken bereiken een oppervlakteruwheid van minder dan 0,5 nm RMS, essentieel voor lasertoepassingen met hoog vermogen waarbij oppervlaktedefecten schade kunnen veroorzaken.

Als verticaal geïntegreerde fabrikant biedt XKH uitgebreide oplossingen van materiaalsynthese tot eindinspectie:

Ontwerpondersteuning: Ons engineeringteam biedt DFM-analyses (Design for Manufacturing) met behulp van Zemax- en COMSOL-simulaties om de venstergeometrie te optimaliseren voor specifieke optische/mechanische vereisten.

Prototypingdiensten: snelle doorlooptijd (<72 uur) voor conceptvalidatie met behulp van onze interne CNC-slijp- en MRF-polijstmogelijkheden

Coatingopties: Op maat gemaakte AR-coatings met een duurzaamheid die de MIL-C-675C-normen overtreft, waaronder:

Breedband (400-1100nm) <0,5% reflectiviteit

VUV-geoptimaliseerd (193nm) met >92% transmissie

Geleidende ITO-coatings (100-1000Ω/sq) voor EMI-afscherming

Kwaliteitsborging: volledige metrologiesuite inclusief:

4D PhaseCam laserinterferometers voor λ/20 vlakheidsverificatie

FTIR-spectroscopie voor spectrale transmissiekartering

Geautomatiseerde inspectiesystemen voor 100% screening op oppervlaktedefecten

Stuur ons een e-mail

Functies

Technische parameters

Saffiervenster
Dimensie	8-400 mm
Maattolerantie	+0/-0,05 mm
Oppervlaktekwaliteit (kras en graaf)	40/20
Oppervlaktenauwkeurigheid	λ/10per@633nm
Duidelijk diafragma	＞85%,＞90%
Parallelliteitstolerantie	±2''-±3''
Afschuining	0,1-0,3 mm
Coating	AR/AF/op verzoek van de klant

Belangrijkste kenmerken

1.Materiële superioriteit

· Verbeterde thermische eigenschappen: Vertoont een thermische geleidbaarheid van 35 W/m·K (bij 100 °C) en een lage thermische uitzettingscoëfficiënt (5,3 × 10⁻⁶/K) die optische vervorming bij snelle temperatuurwisselingen voorkomt. Het materiaal behoudt zijn structurele integriteit, zelfs tijdens thermische schokovergangen van 1000 °C naar kamertemperatuur in enkele seconden.

· Chemische stabiliteit: vertoont geen enkele afbraak bij blootstelling aan geconcentreerde zuren (met uitzondering van HF) en alkaliën (pH 1-14) gedurende langere perioden, waardoor het ideaal is voor chemische verwerkingsapparatuur.

· Optische verfijning: Door geavanceerde C-as kristalgroei wordt >85% transmissie bereikt in het zichtbare spectrum (400-700nm) met verstrooiingsverliezen onder 0,1%/cm.
· Optioneel hyper-hemisferisch polijsten vermindert oppervlaktereflecties tot <0,2% per oppervlak bij 1064 nm.

2. Precisietechnische mogelijkheden

· Nanoscale Surface Control: Door gebruik te maken van magnetorheologische afwerking (MRF) wordt een oppervlakteruwheid bereikt van <0,3 nm Ra, wat cruciaal is voor lasertoepassingen met hoog vermogen waarbij de LIDT hoger is dan 10 J/cm² bij 1064 nm en pulsen van 10 ns.

· Fabricage van complexe geometrie: omvat 5-assige ultrasone bewerking voor het creëren van microfluïdische kanalen (breedtetolerantie 50 μm) en diffractieve optische elementen (DOE) met een resolutie van <100 nm.

· Metrologie-integratie: combineert witlichtinterferometrie en atoomkrachtmicroscopie (AFM) voor 3D-oppervlaktekarakterisering, waardoor een vormnauwkeurigheid van <100 nm PV op substraten van 200 mm wordt gegarandeerd.

Primaire toepassingen

1. Verbetering van verdedigingssystemen

· Hypersonische voertuigkoepels: ontworpen om aerothermische belastingen van Mach 5+ te weerstaan, terwijl de MWIR-transmissie voor zoekerkoppen behouden blijft. Speciale nanocomposiet randafdichtingen voorkomen delaminatie bij trillingen van 15G.

· Quantum Sensing Platforms: versies met een ultralage dubbelbreking (<5 nm/cm) maken nauwkeurige magnetometrie mogelijk in detectiesystemen voor onderzeeërs.

2.Industriële procesinnovatie

· Extreme UV-lithografie voor halfgeleiders: gepolijste vensters van klasse AA met een oppervlakteruwheid van <0,01 nm minimaliseren EUV (13,5 nm) verstrooiingsverliezen in stappenmotorsystemen.

· Monitoring van kernreactoren: neutronentransparante varianten (isotopisch gezuiverd met Al₂O₃) zorgen voor visuele monitoring in realtime in reactorkernen van de vierde generatie.

3. Integratie van opkomende technologieën

· Ruimtegebaseerde optische communicatie: stralingsbestendige versies (na blootstelling aan 1 Mrad gammastraling) behouden >80% transmissie voor LEO-satellietlasercrosslinks.

· Biofotonische interfaces: bio-inerte oppervlaktebehandelingen maken implanteerbare Raman-spectroscopievensters mogelijk voor continue glucosebewaking.

4. Geavanceerde energiesystemen

· Fusiereactordiagnostiek: meerlaagse geleidende coatings (ITO-AlN) zorgen voor zowel plasmaweergave als EMI-afscherming in tokamakinstallaties.

· Waterstofinfrastructuur: Cryogene versies (getest tot 20K) voorkomen waterstofbrosheid in vloeibare H₂-opslagvensters.

XKH-services en leveringsmogelijkheden

1. Maatwerk productiediensten

· Aanpassing op basis van tekeningen: ondersteunt niet-standaard ontwerpen (afmetingen van 1 mm tot 300 mm), snelle levering binnen 20 dagen en het eerste prototype binnen 4 weken.

· Coatingoplossingen: antireflectie- (AR), antifouling- (AF) en golflengtespecifieke coatings (UV/IR) om reflectieverliezen te minimaliseren.

· Precisiepolijsten en -testen: polijsten op atomair niveau bereikt een oppervlakteruwheid van ≤0,5 nm, terwijl interferometrie zorgt voor λ/10 vlakheidsnaleving.

2. Toeleveringsketen en technische ondersteuning

· Verticale integratie: volledige procescontrole van kristalgroei (Czochralski-methode) tot snijden, polijsten en coaten, waarbij de zuiverheid van het materiaal (geen holtes/grenzen) en de consistentie van de batch worden gegarandeerd.

· Samenwerking met de industrie: gecertificeerd door lucht- en ruimtevaartbedrijven; in samenwerking met CAS om superroosterheterostructuren te ontwikkelen voor vervanging in de binnenlandse sector.

3. Productportfolio & Logistiek

· Standaardvoorraad: waferformaten van 6 tot 12 inch; eenheidsprijzen van 43 tot 82 (afhankelijk van formaat/coating), met verzending op dezelfde dag.

· Technisch advies voor toepassingsspecifieke ontwerpen (bijvoorbeeld getrapte vensters voor vacuümkamers, thermische schokbestendige constructies).