8 inch SiC Productiekwaliteit wafer 4H-N SiC-substraat
De volgende tabel toont de specificaties van onze 8 inch SiC-wafels:
8 inch N-type SiC DSP-specificaties | |||||
Nummer | Item | Eenheid | Productie | Onderzoek | Dummie |
1:parameters | |||||
1.1 | polytype | -- | 4H | 4H | 4H |
1.2 | oppervlakte oriëntatie | ° | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 |
2: Elektrische parameter | |||||
2.1 | doteringsmiddel | -- | n-type stikstof | n-type stikstof | n-type stikstof |
2.2 | weerstand | ohm·cm | 0,015~0,025 | 0,01~0,03 | NA |
3: Mechanische parameter | |||||
3.1 | diameter | mm | 200±0,2 | 200±0,2 | 200±0,2 |
3.2 | dikte | urn | 500±25 | 500±25 | 500±25 |
3.3 | Inkepingsoriëntatie | ° | [1- 100]±5 | [1- 100]±5 | [1- 100]±5 |
3.4 | Inkepingsdiepte | mm | 1~1,5 | 1~1,5 | 1~1,5 |
3.5 | LTV | urn | ≤5 (10 mm * 10 mm) | ≤5 (10 mm * 10 mm) | ≤10 (10 mm * 10 mm) |
3.6 | TTV | urn | ≤10 | ≤10 | ≤15 |
3.7 | Boog | urn | -25 ~ 25 | -45 ~ 45 | -65 ~ 65 |
3.8 | Verdraaien | urn | ≤30 | ≤50 | ≤70 |
3.9 | AFM | nm | Ra≤0,2 | Ra≤0,2 | Ra≤0,2 |
4: Structuur | |||||
4.1 | dichtheid van microbuizen | per stuk/cm2 | ≤2 | ≤10 | ≤50 |
4.2 | metalen inhoud | atomen/cm2 | ≤1E11 | ≤1E11 | NA |
4.3 | TSD | per stuk/cm2 | ≤500 | ≤1000 | NA |
4.4 | BPD | per stuk/cm2 | ≤2000 | ≤5000 | NA |
4.5 | TED | per stuk/cm2 | ≤7000 | ≤10000 | NA |
5. Frontkwaliteit | |||||
5.1 | voorkant | -- | Si | Si | Si |
5.2 | oppervlakteafwerking | -- | Si-face CMP | Si-face CMP | Si-face CMP |
5.3 | deeltje | ea/wafel | ≤100 (grootte≥0,3 μm) | NA | NA |
5.4 | kras | ea/wafel | ≤5, totale lengte≤200 mm | NA | NA |
5.5 | Rand chips/deuken/scheuren/vlekken/verontreiniging | -- | Geen | Geen | NA |
5.6 | Polytype-gebieden | -- | Geen | Oppervlakte ≤10% | Oppervlakte ≤30% |
5.7 | markering aan de voorzijde | -- | Geen | Geen | Geen |
6: Terug kwaliteit | |||||
6.1 | achterkant afwerking | -- | C-gezicht MP | C-gezicht MP | C-gezicht MP |
6.2 | kras | mm | NA | NA | NA |
6.3 | Rugdefecten rand chipjes/streepjes | -- | Geen | Geen | NA |
6.4 | Ruwheid van de rug | nm | Ra≤5 | Ra≤5 | Ra≤5 |
6.5 | Achtermarkering | -- | Inkeping | Inkeping | Inkeping |
7: rand | |||||
7.1 | rand | -- | Afschuining | Afschuining | Afschuining |
8: Pakket | |||||
8.1 | verpakking | -- | Epi-ready met vacuüm verpakking | Epi-ready met vacuüm verpakking | Epi-ready met vacuüm verpakking |
8.2 | verpakking | -- | Multi-wafel cassetteverpakking | Multi-wafel cassetteverpakking | Multi-wafel cassetteverpakking |
Gedetailleerd diagram
Schrijf hier uw bericht en stuur het naar ons